電子測試雜志收錄論文類型主要包括：設(shè)計(jì)與研發(fā)、理論與算法、網(wǎng)絡(luò)與信息工程、測試工具與解決方案、科技論壇等。
雜志論文要求：
1、稿件附有作者簡介，重點(diǎn)介紹學(xué)術(shù)經(jīng)歷、學(xué)科專長和工作、學(xué)習(xí)單位。
2、題目簡明確切地反映文稿的特定內(nèi)容，起畫龍點(diǎn)睛的作用。一般宜20個(gè)字左右。
3、摘要慎用長句，只分1個(gè)自然段落。摘要之后須有關(guān)鍵詞，由3—8個(gè)反映論文主題內(nèi)容、并用空格隔開的詞或詞組所組成。
4、如果論文涉及的是有關(guān)基金項(xiàng)目的研究內(nèi)容，頒注明基金或資助機(jī)構(gòu)的名稱、項(xiàng)目編號，交稿時(shí)需附交項(xiàng)目批準(zhǔn)工件復(fù)印件或電子文檔。
5、作者在投稿后30個(gè)工作日內(nèi)未接到本刊編輯部通知的，可自行處理。受限于本刊人力物力，未被刊用的來稿不作退稿通知，請作者自行保留底稿。
電子測試雜志是由北京市科學(xué)技術(shù)研究院主管，北京自動(dòng)測試技術(shù)研究所主辦的省級期刊，影響因子為：0.76。順應(yīng)社會(huì)的發(fā)展，雜志獲得了多項(xiàng)榮譽(yù)：中國優(yōu)秀期刊遴選數(shù)據(jù)庫、中國期刊全文數(shù)據(jù)庫（CJFD）等。
雜志往期論文摘錄展示
基于STM32的姿態(tài)測量系統(tǒng)設(shè)計(jì)
USB信號線的抗電快速瞬變脈沖群軟件仿真
基于虛擬儀器和單片機(jī)的溫度測量與分析
基于STM32F4的電流信號特征參數(shù)分析儀
基于直升機(jī)傳動(dòng)系統(tǒng)故障診斷研究及管理系統(tǒng)設(shè)計(jì)
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