根據(jù)最新信息《Crystallography Reviews》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科為CRYSTALLOGRAPHY，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名14 / 33，百分位59.1%；按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為CRYSTALLOGRAPHY，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名10 / 33，百分位71.21%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：CRYSTALLOGRAPHY | SCIE | Q2 | 14 / 33 |
59.1% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：CRYSTALLOGRAPHY | SCIE | Q2 | 10 / 33 |
71.21% |
這表明該刊在晶體學(xué)領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該刊創(chuàng)刊時(shí)間：1987年，影響因子：2，出版周期：4 issues/year、出版商：Taylor and Francis Ltd.以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
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