《Infrared Physics & Technology》雜志主要接收以下類型的文章：
光學-物理領域的研究?：文章內容涵蓋物理領域的最新研究成果、技術革新和學術動態。
高質量學術論文?：雜志對文章質量要求較高，通常接收具有創新性和學術價值的研究成果。
投稿要求
內容要求：投稿的文章應涵蓋物理與天體物理的關鍵主題，提供最新的研究進展和學術動態。
格式要求：投稿者需要遵循《Infrared Physics & Technology》雜志的投稿要求和格式規范，包括文章結構、引用格式等。
其他信息
《Infrared Physics & Technology》雜志出版周期：Bimonthly，出版地區：NETHERLANDS，語言：English。
該雜志屬于中科院分區中大類學科物理與天體物理領域的3區，小類學科INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION儀器儀表領域的3區。小類學科OPTICS光學領域的3區。小類學科PHYSICS, APPLIED物理：應用領域的3區。
投稿咨詢| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 3區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 2區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理 | 3區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 3區 3區 4區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 2區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區 | OPTICS 光學 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 2區 3區 3區 | 否 | 否 |
在JCR分區中為Q2（ 按JIF指標學科分區學科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名25 / 76，百分位67.8%；OPTICS，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名37 / 119，百分位69.3%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名63 / 179，百分位65.1%； 按JCI指標學科分區在學科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名24 / 76，百分位69.08%OPTICS，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名43 / 120，百分位64.58%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名55 / 179，百分位69.55% ）。
目前是未開放獲取期刊（OA） ，審稿周期預計為：平均審稿速度為 約3.0個月 約8.1周 ，影響因子指數3.1。
該雜志創刊至今，在物理與天體物理-儀器儀表領域，影響力非凡，對來稿文章質量要求很高，稿件投稿過審難度很大，刊登文章的學術水平和編輯質量在同類雜志中均名列前茅。如果你想在該雜志上發表論文，你可以向編輯部提交文章，但文章必須具有重要意義并代表該領域專業的發展。我們歡迎廣大同領域的研究者提交投稿。
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