根據(jù)最新信息《Iet Control Theory And Applications》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科為AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名41 / 84，百分位51.8%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名183 / 352，百分位48.2%；INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名34 / 76，百分位55.9%；按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名45 / 84，百分位47.02%ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名176 / 354，百分位50.42%INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q3區(qū)，排名39 / 76，百分位49.34%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS | SCIE | Q2 | 41 / 84 |
51.8% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 183 / 352 |
48.2% |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 34 / 76 |
55.9% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS | SCIE | Q3 | 45 / 84 |
47.02% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 176 / 354 |
50.42% |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q3 | 39 / 76 |
49.34% |
這表明該刊在自動(dòng)化與控制系統(tǒng)領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該刊創(chuàng)刊時(shí)間：2007年，影響因子：2.2，出版周期：Semi-monthly、出版商：Wiley以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
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