《Microelectronics Reliability》雜志的影響因子為1.6。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數據，現已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術水平，乃至論文質量的重要指標。
以下是如何查看影響因子的幾種方法：
一、通過專業數據庫查詢
1. 通過Web of Science數據庫查詢：Web of Science是一個權威的學術數據庫，提供期刊影響因子的官方數據。
2.中國知網（CNKI）：在CNKI中，用戶可以通過期刊導航功能搜索目標期刊，并在期刊詳情頁面查看其影響因子。
3.使用JCR：JCR是專門提供期刊引證報告的工具，隸屬于Web of Science。
二、查閱學術期刊官方網站
許多學術期刊會在其官方網站上公布最新的影響因子數據。
三、參考學術權威指南和排名
影響因子是一個動態變化的指標，會隨著時間的推移而發生變化。因此，在查看影響因子時，需要關注其發布的時間點。
《Microelectronics Reliability》雜志創刊于1964年，由Elsevier Ltd出版商出版，出版周期為Monthly，國際簡稱為MICROELECTRON RELIAB，中文名稱微電子可靠性。該雜志旨在及時、準確、全面地報道國內外工程技術-工程：電子與電氣領域取得的最新研究成果、工作進展及學術動態、技術革新等，促進學術交流，鼓勵學術創新。
《Microelectronics Reliability》雜志分區情況
中科院分區：在中科院最新升級版分區表中，大類學科工程技術位于4區，小類學科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣位于4區。
JCR分區：根據最新JCR分區， 按JIF指標學科分區中學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q3區，排名239 / 352，百分位32.2%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，位于Q4區，排名113 / 140，百分位19.6%；PHYSICS, APPLIED，位于Q3區，排名131 / 179，百分位27.1%； 按JCI指標學科分區中學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q4區，排名272 / 354，百分位23.31%。NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，位于Q4區，排名114 / 140，百分位18.93%。PHYSICS, APPLIED，位于Q4區，排名140 / 179，百分位22.07%。
投稿咨詢| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 239 / 352 |
32.2% |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 113 / 140 |
19.6% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 131 / 179 |
27.1% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 272 / 354 |
23.31% |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 114 / 140 |
18.93% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 140 / 179 |
22.07% |
《Microelectronics Reliability》雜志評價數據
影響因子：1.6
Gold OA文章占比：14.36%
CiteScore：3.3
SJR：0.394
SNIP：0.801
年發文量：310
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