《Microelectronics Reliability》雜志社的通訊方式如下：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB。
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期刊簡(jiǎn)介：
《Microelectronics Reliability》是一本由Elsevier Ltd出版商出版的工程技術(shù)學(xué)術(shù)期刊，國(guó)際簡(jiǎn)稱為MICROELECTRON RELIAB，中文名稱《微電子可靠性》。該刊自1964年創(chuàng)刊以來，一直以年度Monthly形式出版。并被國(guó)際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄。
該刊專注于工程：電子與電氣及相關(guān)領(lǐng)域的前沿研究，致力于推動(dòng)該領(lǐng)域新技術(shù)和新知識(shí)的傳播與應(yīng)用。它鼓勵(lì)研究人員詳細(xì)發(fā)表高質(zhì)量的實(shí)驗(yàn)研究和理論成果，為學(xué)術(shù)交流提供高質(zhì)量的平臺(tái)。
該刊的平均審稿周期 較快,2-4周 約8.3周。自創(chuàng)刊以來， 《Microelectronics Reliability》在工程：電子與電氣領(lǐng)域一直具有很高的影響力，對(duì)稿件質(zhì)量要求嚴(yán)格。
《Microelectronics Reliability》雜志的影響因子為1.6，屬于未開放OA期刊，Gold OA文章占比：14.36%。且被收錄于國(guó)際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE。
投稿咨詢影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國(guó)際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
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